Заказать звонок
LEXT OLS5000 ЗАПРОСИТЬ ЦЕНУ

LEXT OLS5000

ЦЕНА:   
Основные характеристики

Повышенная надежность измерений благодаря технологии сканирования 4K и оптике, разработанной специально для микроскопа LEXT OLS5000
Новый объектив 10X, оптимизированный для источника длины волны 405 нм и объектива с длинным рабочим расстоянием, был разработан специально для использования с микроскопом LEXT OLS5000. Эти оптические устройства уменьшают аберрацию до минимума, обеспечивая точные измерения во всем поле обзора. Принятие 4K-технологии сканирования с разрешением 4096 пикселей в направлении X (в четыре раза больше, чем у предыдущей модели) повышает разрешение и повышает надежность измерений формы (двукратное улучшение отношения сигнал / шум) , позволяя обнаруживать почти вертикальные наклоны и небольшие шаги без коррекции изображения.


Предыдущие объективы (слева) и объективы LEXT (справа)

Образец с крутыми углами (лезвие бритвы)
2. Сбор данных, который в четыре раза быстрее, чем предыдущая модель и интуитивно понятное программное обеспечение
Микроскоп OLS5000 использует алгоритм PEAK для быстрых и точных измерений как при низком, так и в высоком увеличении, с частотой сбора данных в четыре раза быстрее, чем предыдущая модель. Тем временем функции Smart Scan II и шаблонов анализа автоматизируют рабочий процесс от сбора данных до отчетности, что позволяет любому человеку просто управлять микроскопом, просто нажав кнопку запуска. Эти функции делают микроскоп простым в использовании, даже для начинающих операторов.

3. Вкладывает образцы высотой до 210 мм и вогнутости глубиной до 25 мм с использованием рамы расширения и объектива с длинным рабочим расстоянием
Версия рамочной версии микроскопа OLS5000 может вмещать образцы высотой до 210 мм. Пользователи могут просто вставлять или удалять блоки регулировки высоты или другие аксессуары в рамке расширения, чтобы при необходимости внести корректировки. Аналогичным образом, наблюдение и измерение могут выполняться на образцах с вогнутостью с использованием длинной линзы рабочего расстояния, что позволяет проводить разделение между линзой и образцом до 25 мм.

Описание